製品の微細な欠陥や寸法・位置のズレを自動且つ高精度に検出できる画像検査技術は、半導体業界のみならず製造業全体において品質保証・生産効率向上の要となる技術です。
高精度な画像検査技術は、不良品の流出を防ぎ、リコール・クレームを減らすことでコストの削減になることに加え、高速な画像検査技術は、生産ラインの高速化につながります。
ALITECSは、最先端の画像検査技術を開発し、大手半導体装置メーカーに製品を販売しています。
大手半導体装置メーカからのフィードバックを受け、ナノレベルの微細な欠陥検出を支えるノウハウを蓄積しています。
ウェーハ検査装置やマスク検査装置に関する高度な知識を持つメンバーをはじめ、データ変換、シーケンス制御、装置制御などの関連技術に精通したメンバーが画像検査技術を強力に支えています。